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射频阻抗调节疑问

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发表于 2019-2-17 22:15:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
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1、一般调试射频时要求S22达到smith原图中阻抗匹配点的1/3圆内。但是S22好,只代表由出端口到入端口信号反射较小(这里port1代表芯片端口,port2代表芯片端口经过主抗匹配后的链路末端),并不能表明芯片端口输出的信号反射小。那么这里调试S22的意义何在?
2、最近在调试一个45M-1003M的射频阻抗匹配,低频端和高频端对LC的频响完全不同。链路上阻抗匹配原件(L/C/R)较多时,smith圆图上的曲线移动和理论值也不同(电路见下图),调试起来很费劲。有什么比较好的调试方法?
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