疫情下居家办公期间,远程操控支援与是否轻便易于携带成为新一代实验室自动化的考量。但对于半导体设计公司来说,在MCU的验证过程中,许多数字口的验证DFT工程师需要依赖TE工程师帮助下进行Pattern(如SCAN,BIST)的反复验证进行问题定位,而这些测试往往又只能在昂贵、大型的ATE上进行,同时这类的ATE资源时常被不同项目占用。能不能居家进行这些验证呢?
我们将借由此次的线上研讨会,为各位介绍如何在办公桌上就能实现过去ATE上才有的专业数字测试能力,包含数字码型、引脚电平、定时和Shmoo图、History RAM、PMU perpin等。让DFT团队能在自己的工位上或是可携带于家中就能进行Pattern验证。搭配Pattern Converter的软件,直接将ATPG的pattern文件导入验证平台即可完成,大幅加速Bring up pattern调试时间,加速设计与验证的协同。
直播时间:
2022/06/20
周文昊 NI亚太区半导体业务发展经理_Mixed Signal
周文昊先生目前担任NI公司亚太区混合信号半导体业务发展经理。对于功率电子、混合信号电路以及高速串行数字设计和测试等领域具有丰富经验,在电子测试与测量产品研发、销售和市场推广方面具有超过二十年的从业经历。周文昊先生毕业于哈尔滨工业大学,拥有工学硕士学位。
骆劼行 Project Manager (Lab Validation & Automation),孤波科技
目前主要负责孤波的实验室验证及自动化相关项目及最佳实践,多年first silicon evaluation / characterization相关项目的自动化系统开发经验。