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触控按键产品应用推陈出新，终端产品朝向智能化趋势发展，市场迈入高速成长阶段，合泰半导体（HOLTEK）全新推出资源更丰富、效能更高的5V宽电压Arm® Cortex®-M0+ 触控单片机HT32F542xx系列，型号为HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253，频率最高可达60MHz，提供最多28个触控键，适合用于智能家电、数字电子锁、工业控制等市场。
此系列单片机除了带有更稳定及可靠的电容式触控引擎核心硬件外，同时具备USART/UART/SPI/I²C等标准通信接口，让设计者易于连接各类传感器、无线模块等来扩展产品功能，进而开发各类智能型家用电器及物联网终端设备。
HOLTEK新推出32-bit Arm® Cortex®-M0+ 单片机 (合泰)
触控按键感应依原理大致可区分为：电阻式、电感式、电容式、红外线式、表面声波式等，目前市场主要以电容式为主。终端应用产品除了要实现触控功能，同时做到稳定及符合EMC规范、则是技术上的挑战。合泰协助客户在触控按键应用的开发初期，先建立正确的测试程序，避免掉潜在性能问题随货销售而导致客诉，诸如AC供电或各种环境下遭遇的电源高频干扰、潮湿、水气等，都极易造成触控按键误动作或失效现象。
影响触控稳定性的原因及完善的测试方法：
常见干扰源
常见干扰：电压波动、温度/湿度变化、电磁干扰（RF天线、对讲机等）、电源干扰（电机启动、日光灯启动）等，都有可能引起触控不稳定。
完善的测试
以下测试方法基本可以营造出一般电子设备的使用环境，只要通过这些项目的测试，设计出来的触控产品都是相对稳定可靠的。
1.功能测试：操作触控按键的过程，同时将工作电压从高调到低，再从低调到高反复做测试。
2.潮湿环境测试：利用水蒸气让待测的触控面板上结满露水，或者把触控面板靠近空调出风口，湿度越高电容值越高，相反地，湿度越低则电容值越低。
3.温度测试：用烘箱或热风加热，放入冰箱或冰柜制冷测试，设备充足的情况下还可以用专业的温度箱测试。
4.电源干扰测试：测试EFT脉冲群抗扰度，标准IEC61000-4-4、GB/T 17626.4，测试射频场感应的传导骚扰抗扰度：标准IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。
5.空间辐射测试：测试射频电磁场辐射抗扰度试验，标准IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3，测试场强在3~10V/m之间。
6.ESD测试：标准IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。
合泰半导体（HOLTEK）自2006年开始研发设计触控按键IC，基于提供客户全面且专业的技术服务，于2008年成立「优方科技」，双方共同致力于触控感应解决方案的研究与发展，迄今积累十多年经验，每年协助客户量产数量多达2亿台。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的触控单片机，期望未来在触控应用市场中，提供客户从快速导入开发设计、终至成品量产出货的专业技术服务及完整解决方案。
