随着后摩尔时代的到来,电子元器件逐渐向小型化,结构复杂化,功能集成化方向发展。激光焊接以其非接触,选择性局部加热和高精度的独特优势而成为改进焊接工艺的宠儿。可以知道的是激光焊接可以解决传统回流焊中精度难以提高,小批量生产成本高的问题。由于金属间化合物对焊点可靠性起到至关重要影响,因此研究者们急于发现激光焊接对焊点金属间化合物演变的影响。
工艺原理
CSP(Chip Scale Packag,芯片级封装)焊端为ф0.25m球、有少许的空间吸纳熔融焊锡,同时,由于焊膏先融化、焊球后融化的特性,一般情况下不会出现桥连的问题,主要问题是印刷少印而导致球窝、开焊等现象,因此,0.4mm间距CSP的印刷目标是获得足够的焊膏量。
基准工艺
(1)模板厚度0.08mm,模板开口ф0.25mm
(2)推荐采用 FG 模板。
接受条件
可接受条件
(1)焊膏图形中心偏离焊盘中心小于0.05mm,如图8-52(a)所示
(2)焊膏量为 75%~125%(采用 SPI)。
(3)焊膏覆盖面积大于或等于模板开口面积的70%,如图8-52(b)所示。
(4)无漏印,挤印引发的焊音与焊盘最小间隔大于或等于0.5mm
图源自:(SMT工艺不良与组装可靠性书籍)
不接受条件
(1)图形中心偏离焊盘中心大于 0.05mm,如图8-53(a)所示。
(2)焊膏量超出 75%~125%范围(采用 SPI)。
(3)图形覆盖面积小于模板开口面积的 70%,如图8-53(b)所示。
(4)焊膏漏印、严重挤印与拉尖。
注明:资料来源贾忠中著《SMT工艺不良与组装可靠性》第2版