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2024（春季）亚洲充电展于3月20日-22日在深圳福田会展中心6号馆举办，技术领先的测试和测量解决方案提供商泰克携全面电源测试解决方案和最新4B系列示波器参展，这也是4系列B自全球发布之后的首次公众亮相。作为电源行业值得信赖的测试测量专家，基于电源设计百位工程师的研发需求和市场反馈，泰克为行业提供全栈式测试方案，从初期的器件选择到最终的产品认证多个测试环节，泰克的专业测试方案让工程师不再对高昂电源测试方案束手无策，并助力第三代半导体发展，为电源转换应用带来技术革新。
亚洲充电展（ Asia Charging Expo ）简称 ACE ，由充电头网发起，展会立足粤港澳大湾区，是全球影响最为广泛的能源电子技术展会之一，也是亚洲屈指可数的充电行业技术产业盛会。得益于专业性强、参展商和观众覆盖精准，亚洲充电展在全球享有相当高的知名度。泰克科技此次重点展示如下三个方面的解决方案。
功率半导体器件动态参数测试系统
DPT1000A功率器件动态参数测试系统由泰克科技领衔开发，专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试，旨在解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题，包括如何设计高速工作的驱动电路，如何适配多种芯片封装形式，如何选择和连接探头进行信号测试，如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰。同时系统具备良好的开放性，支持客户对测试硬件进行二次开发，帮助客户在研发设计、失效分析、进厂检测和试产阶段快速评估器件性能，更快应对市场需求改善产品性能。也帮助客户快速验证自研驱动电路，加速应用端解决方案落地。
动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D
HTXB-1000D 动静态综合老化测试系统针对以SiC/GaN 为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化条件下，有针对性的施加特定压力条件（包括静态压力和动态压力），用以测试功率器件器件的漏流指标，以及其他典型特性参数（例如阈值开启电压，动态导通电阻等关键指标），以表征器件的老化特性和工作寿命。可以让器件生产厂商和器件使用者在较短时间内了解新型功率器件的老化特性，以及长期使用条件下的性能变化，为器件实际应用过程中可能出现的故障进行预判和分析。
泰克模拟芯片流程 全栈式测试解决方案
芯片从晶圆到封装为终端客户使用的过程中，不同职能工程师会在各个阶段进行不同的测试，确保产品的安全性，稳定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的测试解决方案助力模拟芯片全流程的测试测量需求。
多功能 4 系列 B MSO 具备应对复杂设计挑战的性能，并且拥有直观的用户界面，能够更快地提供准确的测量结果，同时拥有一系列出色的分析工具。泰克全新4 系列 B MSO 专门面向需要卓越的精度、多功能性和易用性的嵌入式产品设计人员，其带宽为 200 MHz 至 1.5 GHz，具有高达 16 位的垂直分辨率和 6.25 GS/s 的实时采样率，并可实现与先前版本的 4 系列同样出色的信号保真度。此外，该产品不仅继承了前代产品备受好评的触控式用户界面，而且对处理器系统进行了升级；仪器的后部还增加了两个USB 3.1主机端口，实现对USB存储介质高达10倍数据传输速度；13.3英寸高清触摸显示屏采用了新的光学粘合技术，提供更高对比度和更宽的视角。
泰克为工程师提供高效工具，帮助您在电源设计及诊断过程中更好的定位主要功率损耗点，测试电源的质量、效率、谐波等功能从而帮助提供整体电源的效率，提高市场竞争力。
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