ESD静电的危害与失效类型及模式?相信不少人是有疑问的,今天深圳市比创达电子科技有限公司就跟大家解答一下!
一、ESD的危害
1、失效的电子设备有60%~75%都是由ESD造成的;
2、对于新兴技术行业,尤其是高科技微电子,半导体,电磁敏感类及光器件的应用,比例将上升到90%。 因静电原因造成的电子行业的损失每年都多达几百亿美元;
3、静电放电能够产生高频脉冲电流,同时产生高频脉冲干扰,导致设备收到错误指令而误操作,从而对产品或设备产生危害;
4、静电放电能够导致微电子器件损坏或击穿,同时可引起功能退化或潜在性失效;
5、静电放电产生的高压,会危及人身的安全;
6、在易燃易爆品或粉尘,油雾等生产场所易引起爆炸和火灾。
二、ESD引起的失效类型
1、感应或干扰失效
静电放电产生电火花,电脉冲,形成干扰信号,设备接受错误信息。
2、直接接触放电
电子器件或系统成为ESD的导电通路,与电压有关;
引起介质击穿,表面击穿,气体电弧放电,与功率有关;
金属化层融化,体击穿。
三、ESD引起的失效模式
1、硬损伤(突发性完全失效)
约占10%。表现为电器参数完全突然恶化,失去原有功能。主要原因是静电放电造成过压使介质击穿,或过流使内部金属导线焰断,硅片局部融化等。
2、软损伤(潜在性失效)
约占90%。受损伤的器件的各类电器参数仍合格,但其使用寿命却极大缩减。产品或系统可靠性降低,后续使用过程中继续遭受ESD软损伤或其他力损伤累积而过早失效。
综上所述,相信通过本文的描述,各位对ESD静电的危害与失效类型及模式都有一定了解了吧,有疑问和有不懂的想了解可以随时咨询深圳比创达这边。今天就先说到这,下次给各位讲解些别的内容,咱们下回见啦!也可以关注我司wx公众平台:深圳比创达EMC!
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