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/美通社/ -- 半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）携手旗下数字光学品牌南方科技，共同推出业界首创的JadeSiC-NK非破坏性缺陷检测系统，采用先进非线性光学技术对SiC衬底进行全片扫描，找出衬底内部的致命性晶体缺陷，用以取代现行高成本的破坏性KOH（氢氧化钾）蚀刻检测方式，可提升产量并有助于改善制程。若以每个SiC晶锭需蚀刻2片衬底来计算，JadeSiC-NK可为具有100个长晶炉的衬底厂省下每年5600万因蚀刻而损耗的成本。
蔚华科技与旗下南方科技发表业界首创非破坏性SiC缺陷检测系统，抢攻第三代半导体检测分析市场
需求迅速爆发 SiC衬底与组件供不应求 唯KOH是高成本痛点
在现今环境永续意识抬头的全球趋势下，许多国家已制定电动车的阶段性政策目标，SiC芯片需求迅速爆发，尤其用于生产电动汽车使用的耐高温高压SiC功率半导体组件，供给量远远不及需求。
第三代半导体的衬底材料质量决定下游芯片的可靠度及性能优劣，但SiC长晶速度较慢，且衬底晶体缺陷只能以破坏性的KOH蚀刻方式进行抽样检测，使得SiC芯片制程成本居高不下，目前全球主要衬底厂皆积极投资产能扩充并改善制程，加速产业布局以抢攻市占率。衬底厂与组件厂若能在制程中对材料做全面非破坏性检测，不仅可减少原本KOH蚀刻的有害化学溶液使用量，更能及早发现问题，进而有效改善制程、提升良率，进而在第三代半导体市场中展现绝佳优势。
JadeSiC-NK以非线性光学检测取代现行破坏性KOH蚀刻 可降低成本提高产能
南方科技总经理王嘉业表示，目前市场上的光学技术只能检测表面非晶体缺陷，JadeSiC-NK系统采用先进的非线性光学技术，可对全片衬底表面到特定深度进行扫描，反应晶体结构信息，提供晶体缺陷密度及其分布状况，让客户有效掌握衬底质量，未来生产出的组件质量与效能也能更加稳定。
王嘉业进一步说明，JadeSiC-NK非破坏性缺陷检测系统专注在稳定且有效地找出衬底中的致命性晶体缺陷（BPD, TSD, MicroPipe, Stacking Fault），相较现行将SiC晶锭切片后取上下二片衬底进行检测的KOH蚀刻方式，可大幅节省检测时间与衬底成本。以每个长晶炉每月产出四个晶锭为例，采用JadeSiC-NK后，每个晶锭可省下二片衬底成本（每片6寸衬底以800美元计），因此可推估一个长晶炉每年可省下人民币56万元，若是具有100个长晶炉的衬底厂，一年即可省下人民币5600万元！此外，JadeSiC-NK也可针对同一个晶锭进行100%的晶圆检查，进行详细的晶锭分析和批次追踨分析，协助客户在高技术门槛的第三代半导体市场加速制程及产量优化。
阳明交通大学光电工程学系讲座教授郭浩中表示，蔚华与南方科技推出的JadeSiC-NK系统，将非线性光学技术应用在第三代半导体的检测分析，有助突破目前业界在量产及制程改善的技术瓶颈，对于产业链发展提供极大推力，期盼此系统能以更有效更稳定的检测方法，建立业界SiC衬底检测标准，成为产业界非线性光学技术的领航品牌，引领市场应用持续创新及突破。
从设备代理到自有产品 跨足光学检测领域 蔚华科技前景可期
蔚华科技总经理杨燿州表示，考虑经销代理的不稳定性及追求更好的获利结构，蔚华不断加强投资自有产品开发以求推出更贴近客户需求的解决方案，此次透过并购南方科技，加速自有产品的发展进程，让蔚华从半导体封测设备跨足光学检测，首先锁定极具前景的第三代半导体材料缺陷检测，对客户、员工及投资人来说都将是非常振奋人心的新局。
杨燿州进一步指出，蔚华与南方科技自经销合作以来就秉持共同成长、互相成就的初心，成立先进光学材料检测实验室让独特的光学检测技术更快进入业界应用，透过客户的反复验证，进而调整产品规格以满足客户需求。除了将非线性光学技术应用在本次推出的JadeSiC-NK外，未来也将加速将南方科技在MicroLED、超颖材料、硅光子等先进光学检测技术的商业化，持续加大研发能量有效整合集团资源，发挥综效。
光电科技工业协进会董事长邰中和则表示，非常乐见两家台湾企业透过互补双赢的结合产生综效，更为产业创造巨大价值。蔚华与南方科技推出的JadeSiC-NK系统是极具指针性的技术突破，不但对全球第三代半导体业来说是可以大幅降低成本并增加产能的革命性产品，更能让全球看见蔚华与南方科技在光学领域的技术实力，在未来蓬勃发展的第三代半导体市场扮演关键角色。
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