SoC测试

• 基于新型MEMS开关提高SoC测试能力及系统产出
  先进的数字处理器IC要求通过单独的DC参数和高速数字自动测试设备(ATE)测试，以达到质保要求。这带来了很大的成本和组织管理挑战。本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试，以帮助进行DC参数测试和高速数字测试，从而降低测试成本，简化数字/RF片上系统(SoC)的测试流程。 图1.操作员将负载板安装到测试仪上，以测试数字SoC ATE挑战 半导体市场在不断发展，

  与非网编辑

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  2022/11/28

  ADI ATE
• 中国IC设计发展动能支撑爱德万的测试大业
  近日，在上海举办的媒体见面会上，爱德万测试（中国）管理有限公司业务战略发展部高级总监陆亚奇向与非网记者介绍，目前爱德万的业务涵盖机电一体化系统、半导体和器件测试系统以及一些新兴业务领域，这些新兴业务包括钛赫兹波测试和MEMS传感器测试领域等。在交流中，陆亚奇格外强调中国市场对爱德万公司整体业务发展的重要性

  高扬

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  2014/08/26

  ic设计 爱德万

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