MOS管

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PMOS是指n型衬底、p沟道,靠空穴的流动运送电流的MOS管。全称 : positive channel Metal Oxide Semiconductor;别名 : positive MOS。

PMOS是指n型衬底、p沟道,靠空穴的流动运送电流的MOS管。全称 : positive channel Metal Oxide Semiconductor;别名 : positive MOS。收起

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  • 南芯科技推出内置MOS管的高集成度升降压充电芯片
    南芯科技(证券代码:688484)宣布推出全集成同步双向升降压充电芯片 SC8911,该芯片配备 I2C 接口,专为常见的 2 串电池 30W 充电宝应用进行了效率优化,可有效降低外壳温升,为用户提供更安全、更高效的充电体验。SC8911 可支持 OTG 反向升压功能,兼容涓流充电、预充电、恒流充电、恒压充电、自动终止等多种模式,助力客户实现更高的效率、更低的 BOM 成本和更小的 BOM 尺寸。
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    03/21 14:44
    南芯科技推出内置MOS管的高集成度升降压充电芯片
  • 从焊接虚焊到静电击穿:MDDMOS管安装环节的问题
    在电子制造中,MDDMOS管的安装环节暗藏诸多风险。某智能手表产线因焊接虚焊导致30%的MOS管失效,返工成本超百万。本文MDD通过典型故障案例,剖析安装过程中的五大核心问题,并提供系统性解决方案。 一、焊接虚焊:IMC层的致命缺陷 案例:某无人机电调批量出现MOS管功能异常,X射线检测显示焊点空洞率达25%。 机理分析: 焊接温度曲线偏差(峰值温度未达235℃),导致锡膏与铜层间未形成均匀的IM
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  • 驱动电路设计踩坑录:MDDMOS管开关异常的诊断与修复
    在电力电子系统中,MDDMOS管的开关异常往往导致效率骤降、EMI超标甚至器件损毁。某新能源汽车OBC模块因驱动波形振荡引发MOS管过热,导致整机返修率高达15%。本文结合典型故障案例,剖析驱动电路设计中的四大关键陷阱,并提供系统性解决方案。 一、栅极振荡:探针引发的“假故障” 故障现象: 某变频器驱动波形实测时出现20MHz高频振荡,但上机后MOS管温升异常。 根因分析: 传统探针接地线过长(&
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  • MOS管发烫严重:从散热设计到驱动波形的优化实战|MDD
    在电机驱动、电源转换等场景中,MDDMOS管严重发热是工程师面临的常见挑战。某工业伺服驱动器因MOS管温升达105℃,导致系统频繁触发过温保护。本文通过解析发热机理,结合实测数据,提供从散热设计到驱动优化的系统性解决方案。 一、发热根源:损耗模型的精准拆解 MOS管发热本质是能量损耗的累积,主要包含: 导通损耗:P=IMsxRs(o)xD, 某50A电机驱动案例中,Rds(on)=5mΩ,占空比D
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  • MOS管选型十大陷阱:参数误读引发的血泪教训MDD
    在电力电子设计中,MOS管选型失误导致的硬件失效屡见不鲜。某光伏逆变器因忽视Coss参数引发炸管,直接损失50万元。本文以真实案例为鉴,MDD辰达半导体带您解析MOS管选型中的十大参数陷阱,为工程师提供避坑指南。 一、VDS耐压虚标:动态尖峰的致命盲区 误读后果:某充电桩模块标称650V耐压MOS管,实际测试中因关断尖峰达720V导致批量击穿。 数据手册陷阱:厂家标称VDS为直流耐压值,未考虑动态
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