芯片测试_芯片测试是什么意思 - 与非网

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芯片测试中的Trim（微调）

在集成电路(IC)的测试过程中，Trim（微调）是指通过对芯片内部某些参数（如电压、电流、频率等）的调整，使其达到设计规格或性能要求的过程。由于现代芯片制造工艺中，随着尺寸越来越小、集成度越来越高，芯片的各个参数存在一定的偏差，因此Trim操作能够提高良率并优化芯片性能，确保最终产品满足高质量要求。

老虎说芯

3776

11/14 14:30

芯片测试
模拟器件测试概述、测试机组成及发展趋势

器件的测试在集成电路（IC）行业中扮演着极其关键的角色。它需要非常精确地生成和测量电信号，尤其是微伏（μV）级电压和纳安（nA级电流。由于模拟器件相较于数字电路对信号波动更加敏感，因此，测试的精确度要求更高。

老虎说芯

570

11/11 10:50

芯片测试模拟器件
如何理解芯片测试中的DUT？

理解并深入掌握DUT（Device Under Test，被测器件）在集成电路测试中的概念是非常关键的，因为DUT是整个测试过程中直接与ATE（自动化测试设备）交互的对象。

老虎说芯

3546

11/11 08:53

芯片测试 DUT
芯片测试程序

测试程序，即被ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）识别和执行的指令集，是集成电路测试的核心。测试程序的主要功能是指引ATE在测试中如何与被测器件（DUT）交互，具体包括如何对DUT施加不同的输入激励，如何测量其响应信号，以及将测量结果与设定的门限值（Limit）进行比较，最终判定测试结果为“通过”（Pass）还是“失效”（Fail）。

老虎说芯

1313

11/07 09:47

芯片测试
Mbist仿真初探

Mbist 方法是目前大容量存储器测试的主流技术，该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试，能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式模块进行全面的测试。MBIST 电路将产生测试向量的电路模块以及检测测试结果的比较模块都置于芯片的内部，在测试完成后，将测试的结果通过芯片的测试引脚送出到芯片的外部。

志芯

775

09/19 08:42

存储器芯片测试

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