软错误是指由辐射对硅集成电路(Si ICs)的影响导致的设备的暂时性故障。软错误会影响设备的性能和可靠性,尤其是在空间、防御、医疗和电力系统等高辐射环境中。随着电子设备的不断微型化和高密度化,软错误的发生概率也随之增加,因为现在低能量的α粒子也能翻转一个存储器位或改变逻辑电路的时序。其中,一种主要的α粒子辐射源是用于封装中连接元件的锡膏,它们含有α放射性元素。由于使用了倒装焊(flip-chip)和3D封装,锡膏凸点(solder bumps)已经非常靠近硅器件,即使是低能量的α射线也能引起软错误。因此,需要开发低α活性无铅锡膏(Low Alpha activity Pb-free solders),以减少软错误的发生。