晶圆测试_晶圆测试是什么意思 - 与非网

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WAT测试岗常见面试问题

请简述WAT测试的主要目的。WAT测试与CP测试的主要区别是什么？WAT测试在晶圆生产流程中的位置和作用是什么？请解释摩尔定律对WAT测试的重要性。解释在CMOS工艺中，WAT测试结构的意义是什么？WAT参数的种类有哪些？各自的作用是什么？请列举几种常见的有源器件和无源器件WAT测试参数。为什么WAT测试结构设计在划片槽中，而不设计在芯片内部？在WAT测试中，如何确定测试参数是否合格？WAT数据对生产工艺的优化有何帮助？

老虎说芯

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10/28 08:45

晶圆测试
WAT测试与FT测试的区别

把WAT测试比作在汽车生产线上每个工艺环节都要设置的质量检查站。这些检查站会确保每一个零部件的生产质量符合标准。比如，在生产发动机时，WAT测试相当于检查发动机的各个零件是否精准、符合设计要求。如果某个零件不达标，就会在这个环节被发现并处理。

老虎说芯

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10/24 14:11

晶圆测试
CP测试和WAT测试的区别

在集成电路的制造和测试过程中，CP测试（Chip Probing）和WAT测试（Wafer Acceptance Test）是两个非常重要的测试环节。尽管它们都在晶圆（Wafer）阶段进行，但二者的目的、测试对象、测试内容和作用是有显著不同的。

老虎说芯

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10/23 14:37

集成电路晶圆测试
CP测试与FT测试的区别

在集成电路（IC）制造与测试过程中，CP（Chip Probing，晶圆探针测试）和FT（Final Test，最终测试）是两个重要的环节，它们承担了不同的任务，使用不同的设备和方法，但都是为了保证产品的质量与可靠性。

老虎说芯

1093

10/22 08:15

晶圆测试
一文读懂探针卡的概念、组成、分类以及应用

探针卡（Probe Card）在集成电路测试中起着至关重要的作用，尤其在晶圆测试（wafer test）环节，探针卡作为连接ATE测试机台和半导体晶圆之间的接口，确保了在芯片封装前对其电学性能进行初步测量和筛选。

老虎说芯

1069

10/21 09:03

晶圆测试探针卡

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