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罗德与施瓦茨发布在片器件测试解决方案

该方案结合了罗德与施瓦茨强大的R&S ZNA矢量网络分析仪和FormFactor先进的工程探针台系统。半导体制造商可以在产品的开发、认证和生产阶段执行可靠且可重复的在片器件特性测试。

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664

2022/08/09

罗德与施瓦茨矢量网络分析仪
半导体测试设备之后道测试设备：从长川科技开始，国产厂商实现设备替代再不是梦？

书接上文，与非网小编与大家分享了关与半导体测试设备前道测试的相关信息，感兴趣的各位看官老爷可以点击这里。在这篇文章中，将带大家继续探索半导体测试设备，主要讲述后道测试相关内容。

邱丽婷

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2019/02/23

趣科技探针台系统

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