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在CP测试中探针卡的选择有哪些考虑因素

在CP（Chip Probing）测试中，探卡的选择是测试过程中一个重要步骤。电阻、电容和电感特性：这些参数会影响信号的完整性和测量的准确性。需要确保探针卡的电性能能够满足芯片测试的要求，同时保持信号的稳定性。

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11/05 08:45

探针卡
一文读懂探针卡的概念、组成、分类以及应用

探针卡（Probe Card）在集成电路测试中起着至关重要的作用，尤其在晶圆测试（wafer test）环节，探针卡作为连接ATE测试机台和半导体晶圆之间的接口，确保了在芯片封装前对其电学性能进行初步测量和筛选。

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10/21 09:03

晶圆测试探针卡

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