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原子力显微镜

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原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。收起

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  • 原子力显微镜
    原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种使用非接触式探针技术进行高分辨率表面形貌和物理性质测量的显微镜。它能够对样品进行原子级别的扫描和成像，具有成像精度高、分辨率高、能够在空气或液体环境下工作等优点。原子力显微镜广泛应用于各种领域中，如材料科学、纳米技术、生物医学等。
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    原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜，用于观察和测量物质表面的形貌和力学性质。与传统光学显微镜不同，原子力显微镜利用纳米尖端探针扫描样品表面，通过感知和测量纳米级别的相互作用力来重建样品的形貌。本文将重点介绍原子力显微镜的工作模式以及各自的优缺点。
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