磁元件是一种在电子设备中广泛应用的物理组件,在实际工作过程中,常常会遇到磁元件损耗的情况。以下将介绍磁元件主要的损耗模式以及磁元件设计时需要考虑的要点。
1.磁芯铁损
磁芯铁损又称为宏观铁损或交变磁滞损耗,是因为周期性交变磁场作用下,磁性材料内部出现剩磁偏转而产生的热损耗。在磁芯的选择上应优先选择小铁损和高温度稳定性材料。
2.线圈饱和损耗
线圈饱和损耗又称为电流零点渡越损耗,是由于电流在周期性反向变化的过程中,由于铁芯饱和导致电流斜率增大而产生的损耗。在设计时,应优先考虑线圈电流波形与铁芯饱和特性匹配较好的方案。
3.绕组损耗
绕组损耗包括铜损和涡流损耗两部分。其中铜损是由于电流在导线内部通过阻抗而产生的热损耗;涡流损耗则是因为高频电磁感应作用下,在金属导体中激发涡流并消耗电能而产生的损耗。在设计时应优先选择低阻抗、低涡流损耗的绕组材料。
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