随着当今对节能和降低功耗的需求不断增长,发光二极管(led)已成为下一代照明应用的首选解决方案。因此,越来越多的人开始关注防止EOS(电气过度压力)事件的损害,具体来说,指的是LED应用可能承受的任何不良电压、电流或功率。
当EOS事件超过设计规格的最大要求时,LED应用很容易受到损坏。EOS事件通常是短暂的;这意味着它们发生的时间很短,通常不到一秒,通常被称为尖峰(例如,电流尖峰或电压尖峰)。然而,EOS事件可以是永久性的,例如将电池插入电池供电的LED手电筒中。任何单个EOS事件,无论持续时间长或短,或任何数量的事件,都有可能对LED造成损坏。这种损坏既可以表现为立即故障,也可以表现为在EOS事件发生数小时后发生的故障。