ESD和瞬态保护使用SP720申请注释

2023/12/28

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在集成电路中对瞬态保护的需求是由追求以更低的成本提高可靠性所驱动的。改进的主要努力通常指向尽可能低的过电压相关的发生率
压力。虽然电气过度压力(EOS)始终是故障的潜在原因;正确处理、接地和关注环境原因的纪律可以将EOS故障原因减少到非常低的水平。然而，敌对环境的性质并不总是可以预测的。静电放电(ESD)在某种程度上总是存在的，最好的ESD接口保护可能仍然不够客户端。随着固态技术的进步，与ESD相关的集成电路故障的发生越来越少见。ESD和EOS故障都有持续的趋势，部分原因是由于当今VLSI电路的较小几何形状。

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BMME000606181R5MX1	1	Chilisin Electronics Corp	General Purpose Inductor, 1.5uH, 20%, 1 Element, SMD, CHIP, 2726		暂无数据	查看
64320-1311	1	Molex	Fork Terminal,	ECAD模型下载ECAD模型	$13.89	查看
SBAT54SLT1G	1	onsemi	200 mA, 30 V, Schottky Diode, dual, series, SOT-23 (TO-236) 3 LEAD, 3000-REEL	ECAD模型下载ECAD模型	$0.29	查看

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