本技术说明提供了关于54AC16373器件的总离子辐照剂量(TID)和单事件效应(SEE)的详细信息,这些内容涵盖了QML-V-RHA质量认证。其中包括:
- TID结果达到300 krad(Si)
- SEE结果:
- 显示单事件激活锁定(SEL)在有效线性能量传输(有效LET)为120 MeV-cm2/mg时的免疫性。
- 包括单事件瞬变(SET)和单事件干扰(SEU)特性描述。
以下是54AC16373器件的TID测试参数、条件和结果。 54AC16373是一款耐辐射的16位D型锁存器三态器件。它通过了最高300 krad(Si)的质量认证。
通过五个测试载体:54AC14、54AC174、54AC244、54AC374和54AC164245对ACMOS逻辑系列进行了重离子特性化测试。选择这些测试载体是因为它们代表了该技术