本应用说明描述了FCCU注入故障源。此外,对于每种情况,它描述了如何验证错误反应路径的完整性以及注入故障的推荐方法。
本文中提到的器件是SPC58xNx/SPC58xE/SPC58xG(40 nm-ASIL D功能)。
然而,大多数概念也适用于属于SPC5 32位汽车MCU的40 nm和55 nm系列的其他设备。
在阅读本文档之前,读者应该对FCCU的使用有一个清晰的了解。
有关此模块的更多详细信息,请参阅SPC58xEx/SPC58xNx/xGx微控制器参考手册中的“故障收集和控制单元(FCCU)”一章。
另请参阅SPC58xEx/SPC58xNx/xGx勘误表。