意法半导体开发了一套与 8 位和低端 16 位微控制器应用相关的测试例程,用于评估微控制器核心的计算性能和中断处理性能。这些例程已在 ST7 和 ST9 微控制器单元(MCU)上实现,以及市场上可用的几种 MCU 上。这些例程是用汇编语言编写的,以优化它们的实现,并专注于核心性能,而不依赖于编译器代码转换。对每个测试感兴趣的两个参数是执行时间和代码大小。尽可能测量了定时,在没有其他替代方案时进行了理论计算。在大多数情况下,程序确实运行并测量了执行时间,因此汇编源代码不应包含实现错误,结果可以被认为是正确和可靠的。 这项研究的结果指出,ST9+ 在 8 位和低端 16 位应用中能够与 16 位 MCU 竞争,并确认其作为高端 8/16 位 MCU 的地位。也证实 ST7 作为出色的 8 位 MCU。