引言
射频设备的性能可能受到不完全匹配天线的反射、天线环境中物体引起的反射以及定向设备的缺陷的影响。这些影响导致传输的载波信号泄漏到RX混频器输入:相对较强的传输信号的噪声被解调,增加了接收的本底噪声,从而增加了误差概率。在最严重的情况下,可能会使输入混频器过载。
主机系统(MCU)可以通过内置在ST25RU3993器件中的内部ADC(模数转换器)触发射频输入电平的测量来检测由于反射发射载波功率引起的RX混频器过载。
存在于两个RX混频器输入上的反射载波信号直接向下转换为正比的、依赖于输入相位的零频率(DC)电平。内部RX混频器上的两个直流电平是对反射载波电平的测量。
ST25RU3993数据表可在www.st.com上获得,可作为参考对于本文档。