本应用笔记介绍了如何通过考虑基于光谱传感器(及其衍生物)评估套件(EVK)的不同效应来实现校正和校准方法。它显示了用于光谱和多光谱传感器替代方法的各种步骤、程序和方法。一切都使用 AS7343(结构与 AS7352 相同)示例进行解释。其他光谱传感器在光谱技术上相似,在滤波器和峰值的数量上有所不同,但在此所示的算法和光谱传感器校正功能上有所不同。因此,此处显示的AS7343示例的详细信息也可用于所有其他具有适配性的类似光谱传感器。
AS7343 是一款 14 通道传感器,适用于光谱识别和颜色匹配应用。光谱响应的波长约为 300 nm 至 1000 nm。八个光通道覆盖可见光谱。一个通道可用于测量近红外光。“Clear”通道是用于监测任务的不带滤光片(透明)的光电二极管,“Flicker”通道是为闪烁测量准备的。
其他直接影响,例如与系列相关的干扰和偏差,以及测量过程本身的影响。因此,在最终的系统设置中,需要对原始传感器值进行校正,以消除不可避免的干扰效应和偏差。此外,在对影响进行校正后,将传感器结果作为原始数字值转换为物理参数(应用)是必要的,并且可以作为校正和校准的一部分。
从理论上讲,光谱传感器中的窄带滤光片应该只允许与透射光谱中的滤光片光谱相匹配的独特光频率通过(如光谱仪)。
在实践中,特别是对于AS7343传感器,其外部的传输范围和阻挡并不理想,从而导致光学干扰。其次,滤光片和灵敏度不理想。
它们有时在波长上不同,并且在标本和批次中的系列中略有不同。