从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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DS18B20Z | 1 | Rochester Electronics LLC | DIGITAL TEMP SENSOR-SERIAL, 12BIT(s), 0.50Cel, RECTANGULAR, SURFACE MOUNT, 0.150 INCH, SOIC-8 |
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$9.21 | 查看 | |
TLE49462KHTSA1 | 1 | Infineon Technologies AG | Hall Effect Sensor, 0-3.5mT Min, 3.5mT Max, -0.7-18V, Bipolar, Plastic/Epoxy, Rectangular, 3 Pin, Surface Mount, SC-59, SOT-23, 3 PIN |
ECAD模型 下载ECAD模型 |
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$1.15 | 查看 | |
ACS770LCB-050B-PFF-T | 1 | Allegro MicroSystems LLC | Hall Effect Sensor, BICMOS, Plastic/epoxy, Rectangular, 5 Pin, Through Hole Mount, PACKAGE-5 |
ECAD模型 下载ECAD模型 |
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$6.3 | 查看 |