从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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TMP100NA/250 | 1 | Texas Instruments | 2C digital temperature sensor, I2C/SMBus interface in SOT-23 package 6-SOT-23 |
ECAD模型 下载ECAD模型 |
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$3.66 | 查看 | |
A1120ELHLT-T | 1 | Allegro MicroSystems LLC | Hall Effect Sensor, 0.5mT Min, 5mT Max, 30-60mA, Rectangular, Surface Mount, SOT-23, 3 PIN |
ECAD模型 下载ECAD模型 |
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$1.75 | 查看 | |
AD7414ARTZ-1REEL | 1 | Rochester Electronics LLC | Serial Switch/Digital Sensor, 10 Bit(s), 3Cel, Rectangular, Surface Mount, PLASTIC, MO-178AB, SOT-23, 6 PIN |
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