jtag接口

JTAG (Joint Test Action Group) 接口是一种用于测试和调试电路板上的数字电路的标准化接口。该接口由 IEEE 标准 1149.1 定义，也被称为 JTAG 、Boundary-Scan 或 ASIC 互连测试。

1.JTAG接口原理图

JTAG 接口主要由四种信号线组成：

• TMS（Test Mode Select）：测试模式选择线
• TCK（Test Clock）：测试时钟线
• TDI（Test Data Input）：测试数据输入线
• TDO（Test Data Output）：测试数据输出线

这四个线形成了一种环状的拓扑结构，可以在 IC 上形成一个完整的链，从而实现对芯片内部各个模块的控制与访问。

2.JTAG接口主要作用

JTAG 接口可以用于测试电路板上数字电路的连接性，包括 PCB 整体连接情况以及 IC 内部逻辑关系的正确性。此外，JTAG 接口还可实现程序下载、调试和性能分析等功能。对于一些高端芯片，需要 JTAG 接口进行故障排除与修复。

3.JTAG接口在调试中的应用

JTAG 接口在调试中的应用包括以下几个方面：

• 单步执行：通过 JTAG 接口可以对芯片进行单步操作，方便逐条程序指令地调试。
• 寄存器观测：可以读取芯片内部各个寄存器的状态，帮助调试人员了解芯片运行的实时情况。
• 变量查看：可以查看程序中各个变量的值，帮助调试人员分析程序错误。