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VCSEL器件广泛应用于距离测量和3D传感。当VCSEL阵列用于ToF模组，特别是LiDAR一类的dToF系统时，VCSEL在窄脉冲（通常是纳秒量级）情况下的峰值功率、工作电流、工作电压、转化效率、近远场光学特性等参数对于芯片供应商、封装服务商、模组集成商等都非常重要。
经典测试方法一般使用微秒级（μs）脉冲测试结果来映射器件在窄脉冲下的响应，由于在热效应等主要条件上无法完全对应，故这种方法仅是一种替代方法。随着应用端对3D传感作用距离和精度要求不断增加，VCSEL器件的工作电流随之不断加大、脉冲宽度不断减小，上述替代方法的短板也逐渐显示出来：如果继续使用数十微秒脉宽和数安培电流的测试结果来表征大功率窄脉冲性能，可能会给最终系统标定带来较大不确定度。
为了满足VCSEL产业链对窄脉冲LIV和近远场测试的需求，柯泰测试和多家头部企业进行了深入的讨论交流，结合产业界需求和自身知识经验，发布指标领先的窄脉冲测试方案，覆盖窄脉冲LIV、近场光学测试和远场光学测试。
这一系统的主要目标场景包括：
- VCSEL芯片性能评估和压力测试
- 阵列模组封装测试
- 3D传感模组研发
- 3D传感系统厂商来料检测和故障分析
柯泰测试窄脉冲LIV系统用户界面
测试系统的主要特点
1、使用定制的测试治具，实现非破坏性的快速测试
2、使用通用测试仪器，测试条件可控性和重复性优于传统定制系统。系统中的仪器亦可在其它测试中使用，通用性好
3、集成测试台，提高系统搭建效率
4、一键式自动化测试软件，自动扫描工作点，提高工作效率
5、可根据需要替换测试系统组件，从而实现更高的测试要求
窄脉冲指标
系统配置
1. 窄脉冲LIV典型系统配置
说明：窄脉冲驱动器使用夹具测试VCSEL封装体，标准配置中包含一块用户指定的测试夹具；
测试软件包含两个版本：标准配置包括基础版，基础版可完成仪器控制，自动测试和基本数据处理，绘制LIV曲线；高级版还包含高级波形分析；
仅选择LIV测试时，测试台为可选项。
窄脉冲LIV压力测试示例
2. 窄脉冲近场测试典型配置
说明：完成参数可控的近场测试，用户需要先完成LIV测试，进而控制实际近场测试使用的驱动电流等参数。
近场测试结果示例
3. 窄脉冲远场测试典型配置
说明：完成参数可控的远场测试，用户需要先完成LIV测试，进而控制实际远场测试使用的驱动电流等参数。
远场测试实例（脉冲电流峰值约60A）
KTA-LTC系列激光器测试台适用于实验室环境，提供了驱动器定位、积分球定位和移动、相机定位和移动、遮光、电缆连接等多种结构，能快速实现实验环境搭建。其外观尺寸可定制。
自动测试软件KTS-NPLIV
VCSEL窄脉冲测试涉及高压设备和高功率激光辐射，为了保证测试人员和测试设备的安全，我们不建议使用手动方式测试。另外，本系统使用仪器较多，测试过程较为复杂，手动测试容易产生人为误差。
为了得到稳定的结果，柯泰窄脉冲测试系统搭配了自动测试软件平台KTS-NPLIV。
KTS-NPLIV内含四个模块，分别是：
- 基本LIV测试模块（opt BAS）：系统标准配置软件，包括仪器设置，自动数据读取、绘图，测试结果导出等功能；测试项包括工作电流、工作电压、消耗功率、光功率、转化效率（PCE）；
- 高级LIV测试模块（opt APA）：除了选项BAS所含测试项，加入斜效率、等效电阻、Kink值、Kink值电流；还提供了高级脉冲参数分析能力，可完成脉冲时域校正、峰值估计、脉冲时间参数测试等功能；
- 近场分析模块（opt NF）：基于选项BAS或APA，分析特定电流下的近场光学指标，包括发光孔数量、每个发光孔位置、质心位置、椭圆度、离心率、均匀度、暗点数、坏点数、亮点数等；
- 远场分析模块（opt FF）：基于选项BAS或APA，分析特定电流下的远场光学指标，包括发散角、剖线均匀度、人眼安全、宫格总强度、宫格面积、宫格平均强度、宫格均匀度、宫格平均强度比值、宫格对比度等
选项APA（高级脉冲分析）的脉冲时域矫正
为了尽量降低用户成本，柯泰测试有限地支持采用用户自有仪器集成：如用户已购买本系统支持的、且在保修期内的仪器，可在本系统中直接应用，具体支持仪器清单请联系柯泰测试官方联系方式。
