研华COM-HPC Size C模块SOM-C350，助力存储ATE测试设备快速部署

导读：

随着人工智能和大数据的发展，企业数字化转型加速，数据量剧增，推动了存储市场需求的逐年增长，针对存储测试设备的需求也越来越复杂和多样化。研华SOM-C350高端COM-HPC解决方案，具备出色算力、高速数据传输、丰富I/O接口，且兼容PCIe Gen5，是存储ATE测试设备的优选方案。

市场背景

据IDC数据预测，到2025年，企业级SSD全球出货量将增至约7436万块。存储产品需求爆炸性增长的同时也在不断地迭代更新，为保证存储产品的快速生产和高品质，厂商对存储自动测试设备（ATE）的性能、内存容量、I/O扩展性、传输速度和PCIe兼容性等方面的需求也越来越高。

客户应用

该客户的主营业务是内存及存储模组，其固态硬盘（SSD）产品在出厂前必须进行SLT（system level test）测试，存储自动测试设备（ATE）通过PCIE连接的FPGA发射信号并接收反馈以判断存储芯片的功能和信号是否良好。

在当下存储产品形态协议多样的情况下，需要批量、快速、高准确率的完成测试，且客户的ATE测试设备要长时间连续稳定运作，因此对ATE测试设备主控方案的CPU性能、高速数据传输（PCIE GEN5）、稳定性和可靠性都提出较高的要求。

面临的挑战

1. 测试需要高频高速信号

2. 需要PCIE5.0来测试新一代SSD

3. 能快速响应市场，缩短研发周期

4. 实现远程监控和管理

研华SOM-C350存储自动测试设备（ATE）主控方案应用图

研华解决方案

研华提供COM-HPC Size C 模块SOM- C350作为客户ATE测试设备的主控方案。SOM- C350搭载Intel Alder Lake-S/Raptor Lake-S系列处理器，具有出色计算能力。支持高达4pcs 共128G DDR5 SODIMM 内存，配备了3个DDI显示接口，支持高达8K视频输出，可充分满足客户不同外设连接需求。I/O扩展接口丰富，包括1个PCIe Gen5 x16、DDR5、8个USB3.2以及2个2.5GE以太网接口等。此外，SOM- C350还内置了研华远程管理等增值软件，支持远程监控和设备管理，能有效降低维护成本。

鉴于 COM模块的高度灵活性，研华SOM团队还提供专业的设计协助服务支持，可以让客户在不换底板的情况下，灵活搭配不同CPU模块使用，从而满足客户产品快速上市，易于升级的需求。

SOM-C350 产品特性：