知识星球(星球名:芯片制造与封测技术社区,星球号:63559049)里的学员问:麻烦介绍下PECVD制取SiO2薄膜的工艺注意事项
PECVD制备氧化硅的反应方程式
要制备SiO2,需要有硅源与氧源。硅源我们这里以硅烷为例,氧气源可以是 O₂、N₂O、NO 或 CO₂反应方程式为:
SiH₄ + 4 N₂O → SiO₂ + 2 H₂ + 4 N₂SiH₄ + O₂ → SiO₂ + 2 H₂注:用氧气作为氧源,反应速度非常快,可以在室温下发生,会导致颗粒生成,需要避免二者直接接触。因此常用N₂O代替O2.
影响沉积速率和薄膜质量的因素
硅烷浓度:直接影响沉积速率。SiH₄ 与 N₂O 比例:决定薄膜的折射率与应力
硅烷与氧的比例对薄膜的影响
氧过量:生成含有羟基(OH)的 SiO₂ 和水分(H₂O),会导致薄膜质量下降或应力较大。
方程式:SiH4 +氧源 ⟶SiO2 :(OH)+nH2O
氧平衡:生成高纯度的 SiO₂ ,沉积薄膜质量最佳。
方程式:SiH4+氧源⟶SiO2+2H2
氧不足:生成 SiO₂ 含氢化合物,薄膜中存在更多氢含量,导致折射率和应力改变。
方程式:SiH4+氧源⟶SiO2:H+nH2
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