加入星计划,您可以享受以下权益:

  • 创作内容快速变现
  • 行业影响力扩散
  • 作品版权保护
  • 300W+ 专业用户
  • 1.5W+ 优质创作者
  • 5000+ 长期合作伙伴
立即加入
  • 正文
  • 相关推荐
  • 电子产业图谱
申请入驻 产业图谱

无图形晶圆的颗粒检测原理

11/20 09:25
453
阅读需 2 分钟
加入交流群
扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论

知识星球(星球名:芯片制造与封测技术社区,星球号:63559049)里的学员问:在裸晶圆上,颗粒的检测是如何实现的?比较经典的颗粒检测机台有哪些?

颗粒检测用什么光源?

激光。激光束扫描旋转中的晶圆表面,在无颗粒的光滑表面上,激光束发生镜面反射,当激光遇到颗粒时,部分入射光线会向各个方向散射。在暗场照明中,散射光可以直接检测;在明场照明中,可以通过检测镜面反射光强度的变化来表示。

明场与暗场各用来检测什么?

明场的光源垂直地照射到晶圆表面,暗场光源以一定的倾斜角度照射晶圆表面。暗场的视野一般是黑色的,只有表面有颗粒时,才看到发光体。明场适用于检测表面较光滑,颗粒较大的晶圆,暗场适用于检测超微小的颗粒。

检测机台如何记录光强?

使用PMT或CCD来记录光强。PMT是光电倍增管

比较经典的检测机台型号?

KLA Surfscan  SP2

也可以加入Tom的半导体制造先进封装技术社区,在这里会针对学员问题答疑解惑,上千个半导体行业资料共享,内容比文章丰富很多很多,适合快速提升半导体制造能力,介绍如下:     《欢迎加入作者的芯片知识社区!》

 

相关推荐

电子产业图谱