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晶振（石英晶体振荡器）是电子设备中用于产生稳定频率信号的元件。在晶振电路中，外接电容（CL1和CL2）起着至关重要的作用。然而，温度变化，尤其是温度升高，会对这些外接电容的容值产生影响，进而影响晶振的性能。
温度对电容容值的影响
电容的容值会随着温度的变化而发生变化。当温度升高时，电容的介电常数会发生变化，导致电容的容值增大。这种变化对于晶振电路来说可能是一个问题，因为晶振的振荡频率与外接电容的容值密切相关。
晶振起振困难或不起振
当外接电容的容值因温度升高而增大时，晶振可能会出现起振困难或不起振的情况。这是因为晶振的振荡频率与外接电容的容值成反比，容值增大导致振荡频率降低，从而影响晶振的起振。
选择NPO型电容
为了减少温度变化对晶振外接电容的影响，建议选择NPO（Negative Positive Zero）型电容。NPO型电容的介电常数对温度变化不敏感，因此其容值在温度变化时保持相对稳定。这种稳定性对于晶振电路来说是非常重要的，因为它可以确保晶振在温度变化时仍然能够稳定工作。
其他注意事项
除了选择NPO型电容外，还可以采取其他措施来减少温度变化对晶振外接电容的影响：
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温度补偿：在电路设计中，可以采用温度补偿技术来抵消温度变化对电容容值的影响。
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散热设计：通过改善电路的散热设计，可以减少温度升高对电容容值的影响。
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选择合适的电容类型：除了NPO型电容外，还可以选择其他对温度变化不敏感的电容类型，如X7R型电容。
结论
温度变化对晶振外接电容的容值有显著影响，可能导致晶振起振困难或不起振。为了确保晶振在温度变化时能够稳定工作，建议选择NPO型电容，并采取其他措施来减少温度变化对电容容值的影响。通过这些措施，可以确保晶振在电子设备中的稳定性和可靠性。
