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聊聊光刻工序常见术语(2)

09/22 10:55
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上次,我们总结了光刻工序部分的术语,见文章:《光刻工序常见术语中英文对照(1)》这次,我们把剩下的又总结了一些,供大家参阅。

1,Developer Mist:显影液回溅产生的水雾,是显影过程引入的一种缺陷。

2,Bubble:气泡,比如光刻胶中含有气泡。

3,Swelling:膨胀,在曝光前光刻胶表面存在水滴,水滴在光刻胶顶部胶层( Top Coating )中的渗透造成顶部胶层膨胀。

4,Contact Angle:接触角,通过测量接触角可以得出光刻胶的润湿性。

5,diffraction:衍射,当掩膜板开口尺寸接近或小于入射光波长时,衍射效应很明显,这会导致在晶圆表面无法得到理想的锐利边缘,而形成模糊的图形。

6,interference:干涉。干涉在光刻中会产生驻波效应。当入射光和从晶圆表面反射的光相遇时,会在光刻胶内形成驻波,显影后得到的结构就是周期性的锯齿状结构。

7,Mercury lamp:汞灯。用于产生G线(436 nm)和i线(365 nm)的光线。

8,Excimer laser:准分子激光灯。用于产生KrF(248 nm)和ArF(193 nm)光线。

9,solvent:溶剂。光刻胶中含有溶剂。

10,novolak:酚醛树脂,光刻胶的主体支撑结构

11,DNQ:二(重)氮萘醌,感光剂的一种。

12,TMAH:四甲基氢氧化铵,显影液的主要成分。

13,dose:剂量,比如曝光的剂量

14,OPC:光学邻近校正,作用是弥补衍射造成的图像错误。

15,positive resist:正性光刻胶

16,negative resist:负性光刻胶

17,Immersion lithography machine:浸没式光刻机,一般为ArF+浸没式,其他波长的光线不配备浸没式技术。

18,coat:匀胶19,uniformity:非均匀性,主要是用来衡量胶厚是否一致。

20,cp:光刻胶粘度单位,如光刻胶AZ4620的粘度为440cp

21,rpm:转速单位,比如匀胶时设定转速为2000rpm,即每分钟两千转。

22,PGMEA:一种溶剂

23,hole:光刻胶上的针孔

24,resist residue:光刻胶残留25:fence:细小的光刻胶残留

26,Lens:光刻机的透镜,蔡司公司的透镜全球第一。

27,Å:长度单位,0.1nm

由于篇幅有限,今天先总结到这里,后面会对其他工序再进行总结。

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