半导体线宽、套刻精度量测设备供应商列表

半导体设备里，除了人尽皆知的光刻机，大家讨论最多的设备恐怕就是测量与检测设备了（Metrology and Inspection）这类设备的技术门槛非常高，有些种类甚至有小光刻机之称，而且市场空间和利润都十分可观，所以目前半导体行业的投资人对这个领域也非常感兴趣正好，和我合作的“复创芯”计划在7月份有一个相关的行业大会。

具体信息参考以下链接：

2024 中国检测技术与半导体应用大会 ---暨半导体分析检测仪器与设备发展论坛

所以，我也趁这个热度，整理一下全球的相关设备供应商数据。这次先列一下目前收集到的线宽（CD）量测和套刻精度量（Overlay）测设备的供应商数据在CD量测设备中，OCD是光学（Optical）量测，CD-SEM是电子束量测以下收集到的公司中，有些公司的产品还处于研发阶段；有些目前还没有公开的，我就暂时不放到表格里了
麻烦大家在参考的同时，也帮忙确认一下，看看有没有问题。谢谢了

器件型号	数量	器件厂商	器件描述	ECAD模型	参考价格	更多信息
SN74LVC2G17DCKR	1	Texas Instruments	2-ch, 1.65-V to 5.5-V buffers with Schmitt-Trigger inputs 6-SC70 -40 to 125	ECAD模型下载ECAD模型	$0.6	查看
NC7SZ08M5X	1	onsemi	TinyLogic UHS 2-Input AND Gate, 3000-REEL	ECAD模型下载ECAD模型	$0.15	查看
SN74LVC2T45DCUR	1	Texas Instruments	2-Bit Dual Supply Transceiver with Configurable Voltage-Level Shifting and 3-State Outputs 8-VSSOP -40 to 85	ECAD模型下载ECAD模型	$0.79	查看

器件型号

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器件厂商

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参考价格

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SN74LVC2G17DCKR

Texas Instruments

2-ch, 1.65-V to 5.5-V buffers with Schmitt-Trigger inputs 6-SC70 -40 to 125