加入星计划,您可以享受以下权益:

  • 创作内容快速变现
  • 行业影响力扩散
  • 作品版权保护
  • 300W+ 专业用户
  • 1.5W+ 优质创作者
  • 5000+ 长期合作伙伴
立即加入
  • 正文
  • 推荐器件
  • 相关推荐
  • 电子产业图谱
申请入驻 产业图谱

嵌入式,可测试性软件设计!

01/17 11:50
2364
阅读需 7 分钟
加入交流群
扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论

大家好,我是杂烩君。

本次我们来介绍嵌入式可测试软件设计。

什么是可测试性?就是你这个软件模块/函数接口写完之后,可以较为方便、较为全面地进行自测 。

举个简单的例子来认识可测试性软件。

有一个计算函数cal_func,其计算依赖于存在flash里的数据a,与一个外部输入的数据b。

此时,有如下两种实现方法:

方法一:

int get_a_from_flash(void)
{
 int a = 0;
 flash_read(&a, sizeof(int));
 
 return a;
}

int cal_func(int b)
{
 int res = 0;
 int a = get_a_from_flash();
 
 res = a + b;
 
 return res;
}

// 调用
cal_func(5);

方法二:

int get_a_from_flash(void)
{
 int a = 0;
 flash_read(&a, sizeof(int));
 
 return a;
}

int cal_func(int a, int b)
{
 int res = 0;
 
 res = a + b;
 
 return res;
}

// 调用
cal_func(get_a_from_flash(), 5);

这种类似场景,实际开发中应该有不少,大家平时都是按照方式一写代码还是方式二写代码呢?

从可测试性的角度来看, 方法二的实现,更具备可测试性

方式一,因为有一个数据是在函数内部从flash中读取的,所以这个数据我们不太方便进行控制,而能控制的只有参数b。那么,这样子,我们在调用测试时,测得就不是很全,也不能灵活地控制测试路径。

方式二,计算所依赖的数据都通过函数参数留出来了,我们可以很方便地对函数进行测试,可以很方便地输入不同的数据组合。

并且,一般地,我们会引入一些 单元测试框架 ,用来统一管理我们的测试例子。

嵌入式中,常用的测试框架:

    Unity:https://github.com/ThrowTheSwitch/Unity/releasescutest:https://sourceforge.net/projects/cutest/embunit :https://sourceforge.net/projects/embunitgoogletest:https://github.com/google/googletest/releases

使用测试框架之后,针对cal_func函数设计的测试代码如:

int ut_cal_func(int argc, char *argv[])
{
    if (argc != 3)
    {
        printf("Param num errn");
        return USAGE;
    }

    // 预期结果
    int expected_res = atoi(argv[2]); 
    // 实际结果                  
 int res = cal_func(atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));   

    if (expected_res == res)
    {
        printf("input %d, %d, test pass!n", atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));
    }
    else
    {
        printf("input %d, %d, test failed!n", atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));
    }

 return 0;
}

我们封装成串口测试指令:

// 测试路径1
ut app ut_cal_func 1 2 3
    
// 测试路径2
ut app ut_cal_func 2 3 5
    
// ...

输出:

input 1, 2, test pass!
input 2, 3, test pass!

这就是一个可测试性软件设计的一个小例子,通过这个小例子大家应该认识到可测试性软件的好处了吧?

所以,之后写代码,写之前,有必要先想清楚,这个模块最后要怎么进行自测?要测哪些地方?

设计的软件可测试性强,我们就能在开发阶段进行充分地测试,在开发阶段尽可能多地解决一些逻辑上的问题,从而保证更高质量地软件交付。

以上就是本次的分享,欢迎收藏、转发!

推荐器件

更多器件
器件型号 数量 器件厂商 器件描述 数据手册 ECAD模型 风险等级 参考价格 更多信息
FX135A-327 1 Fox Electronics Parallel - Fundamental Quartz Crystal, 0.032768MHz Nom, ROHS COMPLIANT, SMD, 2 PIN

ECAD模型

下载ECAD模型
$0.78 查看
CY62146EV30LL-45ZSXI 1 Cypress Semiconductor Standard SRAM, 256KX16, 45ns, CMOS, PDSO44, LEAD FREE, TSOP2-44
$10.57 查看
LAN8742A-CZ 1 SMSC Ethernet Transceiver, 4 X 4 MM, 0.90 MM HEIGHT, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, SQFN-24
$1.51 查看

相关推荐

电子产业图谱

本公众号专注于嵌入式技术,包括但不限于C/C++、嵌入式、物联网、Linux等编程学习笔记,同时,公众号内包含大量的学习资源。欢迎关注,一同交流学习,共同进步!