解决辐射问题：退耦电容的原理及应用？|深圳比创达EMC（上）

解决辐射问题：退耦电容的原理及应用？相信不少人是有疑问的，今天深圳市比创达电子科技有限公司就跟大家解答一下！

在比创达每年3000+的整改案例中，便携式消费电子类产品如蓝牙音箱产品、录音笔类产品，多次出现时钟类窄带辐射与PCB布线中的电源走线强相关，甚至出现传导发射测试中因时钟干扰导致测试不过的情况；这类问题就涉及到了电源去耦的问题，结合实际整改经验和理论分析，比创达工程师总结了去耦电容的相关原理及应用注意事项，现分享如下：

解决辐射问题：退耦电容的原理及应用？接下来就跟着深圳比创达EMC小编一起来看下吧！

如图1所示，某蓝牙音响产品的RE测试中，在高频段400MHz ~ 900MHz存在一系列窄带干扰，部分频点还超标了(813MHz超标0.77dB)：

经过定位，此系列窄带干扰来自主芯片的时钟；同时定位过程中发现：主芯片的供电是主电源通过一根总长约10cm的走线提供（如图2中黄色虚线示意），且芯片的 Vcc引脚并未就近加相关的去耦措施；所以时钟干扰信号有可能耦合到芯片的电源网络、并通过长走线及外部线缆向外辐射。

如图2，最终的整改措施包括：

⑴ 主芯片Vcc引脚就近增加0.1uF去耦电容

⑵ 芯片时钟网络串入滤波器（BTREF1005A015R221，如图3）

⑶ 电源长走线每隔1000mil左右对地增加一颗0.1uF去耦电容

（BTREF1005A015R221这类LRC滤波器属比创达自研产品，对高频干扰尤其是窄带类干扰有很好的滤波效果，在多领域产品中广泛应用。）

如图4，经过整改，高频段的窄带干扰明显被抑制，整体余量5.5dB+；原超标的频点813MHz直接被滤除，相当于从原来的47.7dBuV/m被削减到30dBuV/m以下（降低17.7dB+），根据上一期的文章“一文读懂EMC“中的dB定义可知，此频点的辐射强度被降低近8倍。

综上所述，相信通过本文的描述，各位对解决辐射问题：退耦电容的原理及应用都有一定了解了吧，有疑问和有不懂的想了解可以随时咨询深圳比创达这边。今天就先说到这，下次给各位讲解些别的内容，咱们下回见啦！也可以关注我司公众平台账号：深圳比创达EMC！

以上就是深圳市比创达电子科技有限公司小编给您们介绍的解决辐射问题：退耦电容的原理及应用的内容，希望大家看后有所帮助！

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