上一篇写了基础操作测试,这次做一些简单的寻卡测试并测试PTX105R的性能。 首先我准备先做寻卡测试,并测试每种卡的读卡距离,这个距离参数很重要,决定了设备的功率,也决定了用户的刷卡体验。
寻卡期间,我也测试了读卡距离,以下是测试数据(注:采用卡尺,卡处于套件天线线圈正上方)滴胶卡测试距离是88.7mm、纽扣卡测试距离是78.4mm,ISO15693的测试距离是106.4mm。测试的距离还是非常不错的,可以见得该读卡芯片的功率还是不小的。正常RC522/其他通用的IC射频读卡芯片一般针对14443A的读卡距离大致在5cm左右,并且是标准的标签,如果针对纽扣卡或者是滴胶卡来说,距离会更近一些,因为其天线线圈很小,这是十分影响距离的。 接下来我测试了针对NFC的测试了读写操作。
通过手机或者程序,向LPC8N04的NFC标签写数据,利用PTX105R套件读出来,如果想写也可以写入,这一点还是比较好的。NDEF:NDEF标签是一种用于在NFC设备之间交换信息的标准化数据格式。其实之前NFC还不是很成熟,大家用的不多,不过现在NFC技术已经很成熟了,手机基本都会嵌入NFC功能,主要支持公交卡、银行卡、还有一些门禁卡等。 在测试polling的时候,发现只要标签识别次数达到100次的时候,软件会停止,如果再运行的时候很大概率会出现软件崩溃的情况,当然这个与本次测评无关,仅希望瑞萨的相关工程师能优化一下测试工具,方便我们测试人员后续的使用。
之后,我发现这个上位机还有个很给力的功能,就是能生成配置代码,并且支持C代码的生成。代码里面基本包含了对射频芯片的一些寄存器配置,并且配置了其电源设置、发射功率等,使用数组的方式,当然这些数据直接调用就好了,只是觉得这么可视化配置会很方便,移植起来也会很容易。
接下来就是对PTX105R的程序移植,该芯片支持三种通信模式,UART、SPI与I2C。评估套件采用的是串口的方式通信,其实我觉得串口的话可以将一些串口指令直接用16进制或者一些测试指令分享一下就好了,我看都是用C语言调用的,虽然这样的API更受欢迎,但是要用串口使用一些简单的功能,还要移植一下的话,还是很麻烦。 移植的话用上面介绍的NON_OS_SDK_IOT_READER_V7.1.0文件夹中的SRC文件夹,这里有例程,可以直接移植一下就可以实现相应功能了。同时我看瑞萨好像提供了RA4M2驱动PTX105R的E2Studio的工程,有兴趣的可以在NON_OS_SDK_IOT_READER_V7.1.0文件夹中的TOOLS里看看。 我找到了一个简单的官方提供的测试指令,是测试串口是否OK并且波特率是否对应的指令。发送55 02 30 FF,如果模块返回01 21则代表通讯正常。代表使用的是115200波特率。
如果开发方面看不懂的话,可以看官方提供的NON_OS_SDK_IOT_READER_V7.1.0\DOCS\html,该说不说,这种资料提供方式非常好,很容易找到自己需要的资料和API等并且能知道每个函数的功能。
总结:通过对PTX105R的使用,对其这么高的识别距离(功率与电路设计)深深吸引,通过对天线电路的布局可以看出官方是下了功夫的。针对应用,其实看完提供的例程,确实可以快速的上手,利用官方提供的评测工具,可以知道PTX105R是可以支持多种射频标签识读的,并且评测工具可以生成配置代码这一点非常好,是我要赞美的点。
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