本帖最后由 縋逐ЮDreams 于 2024-5-11 17:50 编辑
接上篇
3.6. Q-测量NFC(近场通信)技术中的Q-测量通常指的是对NFC设备的射频性能进行的一种质量因数(Q factor)测量。Q factor是一个衡量谐振电路选择性的指标,它定义为谐振频率(f0)与带宽(BW)的比值。在NFC应用中,Q-测量对于评估NFC标签或设备的射频性能至关重要,因为它影响到信号的质量和能量传输的效率。
Q-测量独立于“Application Configuration”下的配置项,任何配置都不会影响Q-测量。 应用程序将触发 12.46MHz ~ 14.76 MHz 频率范围内的测量。根据所选的频率步长,应用程序可能需要运行几分钟。 所有测量完成后,将显示以下结果: - 中心频率(Center)
- 下限频率(Upper Comer)
- 上限频率(Lower Comer)
- 品质因数(Q-Factor)
如果测量失败,一个消息框将显示失败的原因。可能已经扫描了所有频率,但无法确定最大振幅。在这种情况下,将显示错误消息“Could not find correct frequency responses and calculate Q-factor!” 在应用程序的工具栏中选择“轮询器设备串行端口连接”。 将一张NFC卡片放置到PTX105R评估板的天线处,然后点击“Start Q-Measurement”开始Q-测量。 如下为Q测量测试结果: 3.7. 校准“Calibration”用来做温度校准。 关闭温度校准用于检索 NFC SDK 使用的芯片关闭温度值。该值是芯片专用的二进制数字。 “Ambient Temperature”和“Shutdown Temperature”是输入参数(单位为Celsius),根据用户需求进行调整。“Calibration Shutdown Temperature”将启动该过程,大约需要一秒钟才能完成。如果该过程成功完成,可以从“Resulting Shutdown Temperature Setting”条目中读取结果芯片特定的温度值。这个值可以可选地在用户设置对话框中设置,以覆盖默认配置。 更改默认的shutdown temperature设置将在重新启动应用程序后生效。
3.8. NDEFNDEF(NFC Data Exchange Format)是近场通信(NFC)技术中的一种数据交换格式,由NFC论坛标准化定义。NDEF设计为一种轻量级的二进制消息格式,它允许在不同的NFC设备或NFC标签之间交换信息。NDEF消息可以封装一个或多个由应用程序定义的有效载荷,这些有效载荷可以是任意类型和大小的数据。 3.9. HCE T4THCE T4T(Host Card Emulation Type 4 Tag)是NFC技术中的一个概念,它指的是通过软件模拟实现的Type 4 Tag功能。Type 4 Tag是基于NFC Forum定义的一种智能标签或卡片,它遵循ISO/IEC 14443-4标准,通常用于存储NDEF格式的数据,可以被NFC设备读取或写入。它允许NFC设备通过软件模拟传统智能卡的功能,从而实现与读卡器或其他NFC设备的数据交换。在HCE T4T的上下文中,NFC设备上的软件会模拟一个Type 4 Tag,这意味着它可以像一个物理的NFC标签一样工作,响应其他NFC设备的查询,并交换NDEF消息。
由于官方教程没有对NDEF和HCE T4T的描述,所以我也没没有研究透彻如何设置,继续研究中...
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