在我们的日常工作中,电源管理对实现电子元件的进一步集成至关重要。数十年来,TI 致力于开发新的工艺、封装和电路设计先进技术,从而为您的设计提供出色的电源器件。 无论您是需要提高功率密度、延长电池寿命、减少电磁干扰、保持电源和信号完整性,还是维持在高电压下的安全性,我们都致力于帮您解决电源管理方面的挑战。德州仪器( TI )是与您携手推动电源进一步发展的合作伙伴。 TI如何实现低噪声和高精度的方法详解:增强电源和信号完整性,以提高系统级保护和精度。 要实现精密信号链,低噪声LDO稳压器和开关转换器、精密的监控和可靠的保护是必不可少的。对于电动汽车电池监测、测试和测量以及医疗等应用,TI使用专用的电源处理技术以及先进的电路和测试技术,可提高精度、更大限度地减少失真,并降低线性和开关电源转换器的噪声。 TI低噪声和高精度技术的优势 减少IC误差源 (1)利用TI高度优化的低噪声互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺来减少工艺的非理想因素 (2)利用先进的电路和测试技术来降低工艺非理想因素的影响 图 1. 噪声与频率曲线图 (3)采用了陶瓷封装和电路板应力管理等先进技术 图 2. 调节器件和电路板应力 系统噪声消减 (1)技术的进步支持通过高电源抑制比(PSRR)低压降稳压器(LDO)和片上滤波实现更高的系统级抗干扰和抗噪性能 图 3. 高PSRR可实现更好的滤波 和更低的输出噪声 如何降低LDO噪声? LDO中的主要噪声源来自带隙基准源,可使用两种方法来降低 LDO 中的噪声。下面内容详细说明了这两种方法。 降低噪声的一种方法是降低LDO带宽,这可以通过降低LDO内部误差放大器的带宽来实现。但是,如果我们降低误差放大器的带宽,则会降低LDO瞬态响应速度。 另一种方法是使用低通滤波器(LPF)。我们知道,LDO噪声的最主要来源是内部的带隙基准源。因此,我们可在带隙输出和误差放大器输入之间插入一个 LPF,从而在误差放大器将带隙噪声放大之前将其降低。通常,该LPF由一个内部大电阻器和一个外部电容器组成。此滤波器的截止频率设置得越低越好,从而滤除几乎所有的带隙噪声。 这里始终有一个问题:为什么占用大部分芯片面积的大功率导通元件(主要是FET)不是主要噪声源?答案是没有增益。作为主要噪声源的带隙基准源连接至误差放大器的输入端,因此会被误差放大器的增益放大。我们知道,要研究输出噪声,首先要了解运算放大器输入的每个噪声影响因素;所以,要研究导通FET的噪声,需要先找到噪声的影响因素,即导通FET和误差放大器输入之间的开环增益。开环增益非常大,因此导通FET的其他噪声影响因素通常可以忽略不计。
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