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《超大规模集成电路测试--数字、存储器和混合信号系统

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发表于 2021-11-13 15:25:33 | 显示全部楼层 |阅读模式

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英文原版：《Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits》
经典好书，分为三部分
测试概率；测试方法；可测试设计。

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