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[资料] 灵动微MCU测试过程中确保频率校准方法

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发表于 2021-9-2 17:17:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
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测试系统硬件由运行一组指令(测试程序)的计算机控制,在测试时提供合适的电压、电流、时序和功能状态给DUT并监测DUT的响应,对比每次测试的结果和预先设定的界限,做出合格(PASS)或不合格(FAIL)的判断。本篇文章的目的在于提供一种MCU的测试方法,使得在MCU的测试过程中确保频率校准无误,MCU的功能全部正常。为此提供了一种MCU的测试方法,包含以下步骤:
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A.根据MCU的测试原理,做好测试前准备,包含:编辑测试程序;所述测试程序中穷举所有的功能,生成测试矢量;
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B.执行测试矢量,对MCU芯片的各个管脚进行开短路测试;
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C.对通过所述开短路测试的MCU芯片,如果没有烧写过频率,则进入内置RC振荡(IRC)测试模式,进行频率校准,执行测试矢量之后,用TMU测试测量频率输出端(P12)的频率,根据所述测得的频率算出校验(MM)值;所述测试矢量中包含所述MM值;
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D.将电源电压(VDD]
该篇文章实施方式相对于现有技术而言,对通过开短路测试的MCU,进入IRC测试模式,进行频率校准,执行测试矢量之后,用TMU测试测量频率输出端P12的频率,根据测得的频率算出丽值;接着将VDD、VPP和VIH的电压调整到5伏,将根据频率输出端测得的频率算出的MM值代入测试矢量,执行测试矢量之后,测量频率输出端的频率;并在测得的频率不在预设的门限内时,判定MCU为不合格。通过IRC频率校验和烧写,对MCU的输出频率进行微调,从而确保频率校准无误,MCU的功能全部正常。

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