安泰电子高压放大器基于干涉仪的设计与优化中的应用

Aigtek安泰电子

实验名称：高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用

实验目的：优化设计扫描式固体腔F-P干涉仪

实验设备：光源，准直扩束系统，待测电光晶体（包含驱动），4f系统和CCD，信号源，ATA-2161高压放大器，示波器。

实验内容：为实现全天时边界层内大气温度绝对探测，即精细获取大气Rayleigh散射谱形，借鉴F-P干涉滤波技术和晶体的电光特性，设计了一种扫描式固体腔F-P干涉仪，测试其滤波性能并进行优化。

实验过程：如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路，此光路用做全息图的记录，主要包括以下几个部分:光源，准直扩束系统，待测电光晶体（包含驱动）、4f系统和CCD。

测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图

电光晶体高压驱动，函数发生器，使其产生一个脉冲方波信号，然后经过ATA-2161高压放大器使其放大，最终把放大后的信号加载到晶体上，完成晶体电光性能的测试。  

电光晶体高压模块标定

实验结果：

（1）不同电压下CCD上记录的全息图

（2）不同电压场下，对应晶体折射率的改变量

对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理，得到不同电压场下，对应的晶体的相位改变量，再由公式计算得出，不同电压场下，对应晶体折射率的改变量。

相位调制和折射率调制度实测值与理论值的对比