运算放大器的好坏判别方法

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运算放大器好坏的判别对相当多的电子维修者有一定的难度，不只文化程度的关系(手下有许多本科生，不教的话肯定不会，教了也要好久才领会，还有个专门跟导师学变频控制的研究生，居然也是如此!)，在此与大家共同探讨一下，希望对大家有所帮助。

理想运算放大器具有“虚短”和“虚断”的特性，这两个特性对分析线性运用的运放电路十分有用。为了保证线性运用，运放必须在闭环(负反馈)下工作。如果没有负反馈，开环放大下的运放成为一个比较器。如果要判断器件的好坏，先应分清楚器件在电路中是做放大器用还是做比较器用。

根据放大器虚短的原理，就是说如果这个运算放大器工作正常的话，其同向输入端和反向输入端电压必然相等，即使有差别也是 mv 级的，当然在某些高输入阻抗电路中，万用表的内阻会对电压测试有点影响，但一般也不会超过 0.2V，如果有 0.5V 以上的差别，则放大器必坏无疑!(我是用的 FLUKE179 万用表)

如果器件是做比较器用，则允许同向输入端和反向输入端不等，

同向电压>反向电压，则输出电压接近正的最大值;

同向电压<反向电压，则输出电压接近 0V 或负的最大值(视乎双电源或单电源)。

如果检测到电压不符合这个规则，则器件必坏无疑！

这样你不必使用代换法，不必拆下电路板上的芯片就可以判断运算放大器的好坏了。

哪些时候运算放大器代替不了比较器？   

许多人偶尔会把运算放大器当比较器使用。一般而言，当您只需要一个简单的比较器，并且您在四运算放大器封装中还有一个“多余”运算放大器时，这种做法是可行的。稳定运算放大器运行所需的相位补偿意味着把运算放大器用作比较器时其速度会非常的低，但是如果对速度要求不高，则运算放大器可以满足需求。偶尔会有人问到我们运算放大器的这种使用方法。这种方法有时有效，有时却不如人们预期的那样效果好。为什么会出现这种情况呢?

许多运算放大器都在输入端之间有电压钳位，其大多数一般都使用背靠背二极管(有时使用两个或者更多的串联二极管)来实施。这些二极管保护输入晶体管免受其基极结点反向击穿的损害。差动输入为约 6V 时便会出现许多 IC 工艺击穿，这会极大地改变或者损坏晶体管。下图显示了 NPN 输入级，D1 和 D2 提供了这种保护功能。

        

大多数常见运算放大器应用中，输入电压均约为零伏，其根本无法开启这些二极管。但是很明显，对于比较器的运行而言，这种保护便成了问题。在一个输入拖拽另一个输入(以一种讨厌的方式拉其电压)以前，差动电压范围(约 0.7V)受限。尽管如此，但我们还是可以把运算放大器用作比较器。但是，在我们这样做时必须小心谨慎。在一些电路中，这种做法可能是完全不能接受的。

问题是我们(包括其他运算放大器厂商)并没有总是说明这些钳位的存在。即使有所说明，我们可能也不会做详细的解释或者阐述。也许我们应该说：“用作比较器时，请小心谨慎!”产品说明书的作者们通常也只是假设您肯定会把运算放大器当作运算放大器用。最近，我们在美国亚利桑那州图森产品部召开了一个会议。会议决定，我们以后将会更加清楚地说明这种情况。但是，现在已经生产出来的运算放大器怎么办呢?下列指导建议可能会对您有所帮助：

一般而言，双极 NPN 晶体管运算放大器都有输入钳位，例如：OP07、OPA227 和 OPA277 等。uA741 是一个例外，它具有 NPN 输入晶体管，并且有一些为 NPN 提供固有保护的附加串联横向 PNP。

        

使用横向 PNP 输入晶体管的通用运算放大器一般没有输入钳位，例如：LM324、LM358、 OPA234、OPA2251 和 OPA244。这些运算放大器一般为“单电源”类型，其意味着它们拥有一个扩展至负电源端(或者稍低)的共模范围。输入偏置电流为一个负数时，表示输入偏置电流自输入引脚流出。这时，我们通常可以认定它们为这类运算放大器。但是，需要注意的是，使用 PNP 输入的高速运算放大器一般有输入钳位，而这些 PNP 是一些具有更低击穿电压的垂直 PNP。

        

更高电压(一般大于 20V)下工作的 JFET 和 CMOS 放大器，可能有也可能没有钳位。这种不确定性，要求您进行更多仔细的检查。所用工艺和晶体管类型的特性，决定了其内部是否存在钳位。

大多数低压 CMOS 运算放大器都没有钳位。自动归零或者斩波器类型是一个特例，其可能具有类似钳位的行为表现。

底线是……如果您考虑把运算放大器用作比较器，请一定小心谨慎。仔细阅读产品说明书，不要漏掉一点信息，包括应用部分的一些注解内容。在电路试验板或者样机中验证其表现，查看一个输入电压对另一个输入电压的影响。不要依赖 SPICE 宏模型。一些宏模型可能并不包括对钳位建模的一些额外组件。另外，当您笨手笨脚地把运算放大器从一个轨移动到另一个轨时可能出现其他一些现象，我们可能无法精确地对这些现象建模。