正如第一篇开箱报告中提到的, 55S69这颗料的高速高精度ADC是比较感兴趣的一个技术指标,今天就来测试下ADC的性能。 同样的,我们还是从装入SDK例子着手, 打开SDK装入向导:
从驱动例程中, 发现有ADC相关的例程,勾选lpadc_polling例程,注意测试的时候要用到串口输出ADC采集的值,所以图中的UART选项也要勾上。
根据OKdo E1开发板的引脚图: ADC的相关的引出脚有2个,PIO0_23和PIO0_16,正好是一对双端输入。本次测试先从单端输入开始,所以只要用到一个正端输入引脚PIO_23,先看看引脚的配置情况:
从上图中看出,ADC配置了一个单端输入的引脚PIO0_23,符合我们的要求。
在编译项目前需要改一下时钟配置,大多数默认示例都使用的外部晶振,但这块板子上的外接晶振没有焊接,所以还是使用内部晶振,因此要修改下时钟配置函数。
如上图所示,把时钟配置函数修改一下即可。此时可以编译工程了。正常情况下编译不会报错,编译完成后可以将程序直接下载到开发板。
打开串口终端,给开发板重新上电或者按一下复位按钮,此时串口终端会有信息输出,同时每按一次回车键或其它任何键,开发板会输出一次最新的AD采样值:
由于此时的AD输入引脚悬空,所以此时的采集值是无意义的。 给AD输入引脚接上传感器信号,再来看下AD采集值:
数值不但有了意义,而且很稳定。此时的值皆为单次采样值,没做任何处理。
再来看下传感器开始检测物品后的采集信号输出:
也是很稳定的输出值。
至此,55S69的ADC功能初步测试完毕,从测试结果来看,完全可以满足绝大部分项目中AD采集的需要。
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