查看: 2310|回复: 0

脉冲群试验与防护技术

[复制链接]

该用户从未签到

发表于 2012-11-26 15:10:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
分享到:
钱振宇:很高兴接受邀请来参加这样一次研讨会,提供一个跟各位交流的平台。
  
这个脉冲群试验是一个普遍的抗干扰试验项目,在产品的抗干扰试验当中,其它的试验可以不做,脉冲群是要做的,这个使用比较普遍,同时这个也是属于比较难做,难道它有两层意思,一个本身做试验重复性,可比性不好,就是每一个人做出来的结果不太一样,还有一个比较难以通过,我想就这个问题给大家展开,应该是比较受欢迎的一个话题。
2013深圳电子展 (aidzz.com)、电子元件技术网(www.cntronics.com)和我爱方案网(www.52solution.com)以及深圳会展中心( www.0755hz.cn )联合报道本研讨会!
首先我说一说脉冲群它试验的性质。这个脉冲群试验的本质,第一个本质是高频共模试验,从这张图可以看出来,在这个里面,就是上面这个地方,这个地方上面就是一个脉冲群输出的一根同轴电缆,同轴电缆这个是芯线部分就是脉冲群的信号,它的同轴电缆屏蔽层,就是在发生器里面,现在可以看出来同轴电缆接到网络,通过网络耦合电路加上其中一根线,就加到这根线上来,另外这个网络是一个铁壳的,是放在一个窗口接地板上,现在你可以看到屏蔽层是接在上面,实际上和地板接在一起,本身发生器的输出是线线对屏蔽层,经过这个转换以后变成了这根线和大地之间的关系,这样就很明显了,这个脉冲群试验就是一个共模试验,是线对大地的试验。
  
看到这个的话,我觉得有两个意思非常重要,第一个既然是共模试验,做这个试验一定是参考接地板联在一起,而且参考接到板一定要联在一起,所以参考接地板一定要有,而且一定要规范,假如这个不规范做出来的试验结果是不对的,一定要有规范试验的布置,第二个既然这个脉冲群是抗共模试验,决定了我们做抗干扰的基础上面和共模试验应该是有关系的,应该采取共模的技术来进行抗干扰,这是第一个。
  
第二个这个脉冲群试验本质之二是传导核辐射试验的结合,为什么这么说,因为我们传输信号它的沿达到了5纳秒,宽度只有50个纳秒,所以它是一个纳秒级的,比如说它的比较大的频率要达到60兆以上,60兆以上它的波长就是五米,对于这个电源线来说哪怕只有一米长的电源线,老标准,按照新标准是0.5米长,这个线长度已经可以和这个波长可以补遗的,这个传输线一定程度上就是一个辐射的天线,这样一来它既有传导成份,又有共模成份,而且你可以想象,它的辐射成份和电源线的长度还是有关,这个就意味着将来我们做这个试验线的长度不是一个随便可以接一起的,是应该是一个固定长度,因为固定长度就固定了辐射的比例。所以这一点很关键。
关注文本的同学基本上都是电子行业的,应该也会关注电子行业的那些基础知识、资讯、方法、技巧等资讯,这里小编给大家再推荐几篇不错的文章tbi文件怎么打开(http://www.cntronics.com/public/tool/kbview/kid/1897/cid/10);ic是什么意思(http://www.cntronics.com/public/tool/kbview/kid/827/cid/1); 电机功率计算公式 ( http://www.cntronics.com/public/tool/kbview/kid/1517/cid/1);这次就暂时先推荐这几篇,谢谢!若其他内容感兴趣,可以移步至 电子百科 ( baike.cntronics.com )或采购中心 ( ep.cntronics.com )...
这张图说的就是它的频谱分析,从这个里面可以看得出来它的频谱应该是很广的,另外它的辐射强度和这根线离开地面的高度还有关系,因为这个里面就决定了这根线和大地之间的分布概念,因此这个电流的大小也决定将来辐射的传出问题,这样看来这个是电源线离地的高度也不是随便可以的,应该离地高度就是10公分的高度,这个都是很重要的,因此电源线的长度,电源线离地的高度等等就决定了试验结果重复性和可比性,注意试验配置的规范性十分重要,从这个上面可以看得出来。
  
另外除了这个规范以外,还有提醒大家注意一点的,就是做试验的时候,有的时候可能还有其它的线,将来再接其它的线实际上是放在一个辐射场里面,因此尽管这些线没有直接参加做试验,但是这些线实际上是会感受到辐射电磁场,因此会把辐射的东西引入到机器里面去,这样就会引起设备提早死机,所以从这个上面来看,将来你的附件导线的根数,以及它的摆放位置等等,这个也是需要你们注意的。
  
脉冲群试验本质之三是能量积累,不是一个门坎电压,因为门坎电压就是到了一定电压以后就立马出错,实际上在你们做试验的时候就会发现,这个要经过一定时间的加脉冲群信号以后才逐步逐步波形,这样就引证脉冲群是能量积累的过程。
  
既然是一个能量积累的过程,我觉得将来不同的运行程序也有不同的能量积累,因为我们把半导体线路开关电路,计算机电路,或者逻辑电路,直接半导体开关电路,不同的就是序列,就是程序,决定了有不同的冲放电的序列,因此也会引起试验结果的不一样,所以这样看来,运行的程序也和试验结果有关系,从这个上面来看,在试验出错的原因很多,因此这个试验的情况,包括试验的接线,试验的布局,脉冲的施加办法等等,都需要详细的记录在案,这个才能保证将来试验结果的重复性,可比性...
完整版地址:"http://www.cntronics.com/public/seminar/content/type/article/rid/268/sid/65"
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 注册/登录

本版积分规则

关闭

站长推荐上一条 /4 下一条

手机版|小黑屋|与非网

GMT+8, 2024-11-22 14:59 , Processed in 0.115269 second(s), 15 queries , MemCache On.

ICP经营许可证 苏B2-20140176  苏ICP备14012660号-2   苏州灵动帧格网络科技有限公司 版权所有.

苏公网安备 32059002001037号

Powered by Discuz! X3.4

Copyright © 2001-2024, Tencent Cloud.