2008汎铨（上海）科技研讨会

babj0314

一、日期：2008年10月21日
二、地点：上海市复旦大学张江校区（浦东新区张衡路825号）
三、举办宗旨
    随着IC产业的快速发展，摩尔定律在逐步的发挥作用，产品的制程发生了翻天覆地的变化， CD尺寸也在人们的惊叹声中从微米级向纳米级进步。在这种情况下，失效分析得到了人们的日益重视，其重要性受到业内人士的广泛认可。
        2007年，汎铨科技成功举办第一届SEMINAR。在此次研讨会上，公司总经理、资深工程师陈荣钦博士、复旦大学国家微分析中心主任李越生教授和与会人员一起分享了FA领域的相关知识，对FA的流程，及各种设备是如何应用于IC失效分析做出了详细介绍。
    为了更好的为业界服务，同时也为了让各位朋友、同仁更全面的了解汎铨科技，我们将在2008年10月21日举办第二届SEMINAR，主讲为大陆及中国台湾地区FA，Design House，Foundry各领域资深人士，来自中国台湾茂矽电子股份有限公司（MOSEL），广闳科技股份有限公司（INERGY），汎铨科技股份有限公司（MSS），复旦大学国家微分析中心等国内知名企业和高校科研机构。SEMINAR以MOSFET total solution 为主轴，内容从design到foundry，延续到失效分析方面。
    我们的研讨会旨在为广大业界朋友免费提供一个交流合作的平台，在这里，您不仅可以得到专业的技术支持，而且可以与与会的其它同仁共商IC产业发展大计。
四、会议内容： 

时 间	议    程
09:45-10:00	嘉宾签到
10:00-10:10	Introduction
10:10-11:30	功率半导体元件设计及应用（INERGY）
11:30-12:30	Trench MOSFET Foundry process（MOSEL）
12:30-13:30	Lunch
13:30-14:30	Analog/Power IC Foundry process（MOSEL）
14:30-15:50	Introduction of Failure Analysis Techniques in Semiconductor
15:50~	Open Discussion

五、报名处：上海市浦东新区张衡路825号微分析楼C102室
联系人：陈阳（sky）
E-mail：[email=sky_chen@msscorps.comMSN]sky_chen@msscorps.com[/email]
MSN：babj0314@hotmail.com
六、参加人员：各研究单位相关学者专家，IC领域各企业工作人员。