泰克2013年测试解决方案研讨会

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主办单位：Tektronix
协办单位：《电子产品世界》杂志社

         面临全球瞬息万变的产业市场，设计测试工程师们必须了解最新的技术动态，进一步探讨研发新价值的开创，结合最好的设计工具和最稳定可靠地测试方案，来创造更高的产品价值。泰克作为领先的测试、测量和监测产品提供商一直致力于为广大的研发工程师们提供最新的产品和方案。
         本次研讨会泰克汇集了我们最优秀的技术专家，针对当前的测试测量热点，为大家介绍高速串行，嵌入式设计，移动多媒体，数字RF等方面的最新趋势及测试方案，使您能够更加轻松地应对数字科技领域的测试挑战。
        主题介绍
   嵌入式系统测试决方案
  高速接口测试解决方案
  移动多媒体解决方案
  复杂射频信号测试方案
  25G-100G的的光电接口技术及发射机和接收机测试
  工业应用标准及高速接口测试解决方案
  泰克新产品及测试方案介绍
  TDR阻抗测量及高速标准接口测试方案
  泰克最新光通信测试解决方案
        时间地点
成都        2013年10月17日            世纪城国际会议中心三层蜀韵厅 成都高新区世纪城路198路
北京（上地）        2013年8月21日            已举办
北京（望京）        2013年8月23日            已举办
长春        2013年9月10日            已举办
大连        2013年9月13日            已举办
        抽奖礼品
        奖品：精美工具套装  

与会者均可获赠
        联系方式
报名热线：        010-58882763，010-58882774，010-58882979，010-58882981
报名传真：        010-58882977
我们诚挚的邀请您参加泰克2013年最新测试测量解决方案研讨会，希望您能获得超值感受和愉快的学习体验。
        承办媒体：