IC 测试机 测试原理!!!

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MJT-818 IC （IC 测试机） 产品简介:目前IC使用率越来越高且不良率及反修率也越来越高，此机器可以测试IC各脚之间开短路，对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容，对IC上电，量测关键点的电压等手段检测出不良IC，并能对不良情况进行统计，以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快 测试的变革。 产品特点：1. 模块化设计，或以扩展多种功能。2. 丰富的测试信号源及REED REALY SWITCH BOARD,,大大的保证了稳定性和可测率。3. 测试程序全部自动生成并ATPD（Auto test program debug）。4. Board View功能可即时显示不良脚位，针点位置，方便检修。5. 完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。6. 系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

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