如何优化电路上的开关检测电路抗干扰能力？

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电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备就死机了，请问哪里改进，增加抗扰度。