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MOS开关管的损耗计算

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发表于 2014-12-24 09:54:53 | 显示全部楼层 |阅读模式
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        1、开通损耗
        MOS管在开通过程中,电流,电压和功耗的波形近似如下

Rds(on)为Mos管的导通电阻,会随着MOS管结温的变化而变化,一般MOS的Datasheet中都会给出一个温度变化曲线,可以参考改曲线取值。
Idrms为导通过程中的电流有效值
Ton为一个周期内的导通时间
F为开关频率
3、关断损耗
MOS管在关断过程中,电流,电压和功耗的波形近似如下
Idss为Mos管截止时在实际结温情况下的漏电流,可以参考器件手册取一个合适的值。
Vds为截止时Mos管DS之间的电压
Toff为一个周期内的截止时间
f 为开关频率
另外还有门级损耗和输出电容损耗,还有Mos内部寄生二极管的功耗。因对整体Mos管的公号影响不大且涉及到具体的应用和各个管子的参数不同,这里 不再详细叙述。

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 楼主| 发表于 2014-12-24 10:16:15 | 显示全部楼层
今天还发了一篇帖子:MOSFET开关损耗的计算  http://www.fairchildic.org/module/forum/thread-797-1-1.html   与这篇帖子是相近的内容
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