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高频变换中小功率逆变电源的可靠性及效率

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发表于 2011-4-25 16:59:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
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  高频变换中小功率逆变电源的可靠性及效率:目前,高频变换中小功率逆变电源存在的问题主要是可靠性不高。多年的研究、生产及使用说明:影响高频变换中小功率逆变电源寿命的主要因素有电解电容器、光电耦合器及磁性材料。

  实践证明:追求寿命的延长要从设计方面着手,而不是依赖于使用方。降低器件的结温,减少器件的电应力,降低运行电流及采用优质的磁性材料等措施可大大提高其可靠性。

  要提高逆变电源的效率,就必须减小其损耗。逆变电源中的损耗通常可分为两类:导通损耗和开关损耗。导通损耗是由于器件具有一定的导通电阻Rds,因此当有电流流过时将会产生一定的功耗,损耗功率Pc由下式计算:Pc=I2×Rds。在器件开通和关断过程中,器件不仅流过较大的电流,而且还承受较高的电压,因此器件也将产生较大的损耗,这种损耗称为开关损耗。开关损耗可分为开通损耗、关断损耗和电容放电损耗。

  开通损耗 Pon=1/2 ×Ip×Vp×ts×f

  关断损耗 Poff=1/2×Ip×Vp×ts×f

  电容放电损耗 Pcd=(1/2)×Cds×Vc2×f

  总的开关损耗 Pcf=Ip×Vp×ts×f+1/2 ×Cds×Vc2×f。

  式中:Ip为器件开关过程中流过的电流最大值;

  Vp为器件开关过程中承受的电压最大值;

  ts为开通关断时间;

  f为工作频率;

  Cds为功率MOSFET的漏源寄生电容。

  现代电源理论指出:要减小上述这些损耗,就必须对功率开关实施零电压或零电流转换,即采用谐振型变换结构。
本文来自     http://www.glspower.org/c647.html
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