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利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率

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HelloRocky

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发表于 2011-1-19 00:15:01 | 显示全部楼层 |阅读模式

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国家自然科学基金资助项目(60674111)

关键词: 成形函数; 过采样; 高精度; 微弱信号检测; 高分辨率;

摘要: 为了提高现有模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)检测微弱信号的能力,简化系统电路和降低生产成本,在充分利用ADC采样速度的条件下,通过过采样技术来提高ADC的分辨率,并且采用叠加成形函数的方法,实现了对微弱信号的检测.理论分析了不同情况下成形函数带来的误差、成形函数的使用条件和减少其带来的误差的方法.实验结果表明,用常规中分辨率ADC直接采样,就可以达到与现有高分辨率ADC直接采样才有的高精度;而使用叠加成形函数后的过采样技术,其效果更佳.